Page 3 - 縱橫半導體檢測—TOF-SIMS扮演要角
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目錄Contents
封面特寫
20 縱橫半導體檢測
TOF-SIMS扮演要角
飛行時間式二次離子質譜(TOF-SIMS)是一項極為靈 敏的表面分析技術，可以同時獲得空間解析度及縱深 分析的訊息，已廣泛應用於先進製程的各種開發研 究，是微區分析的一大利器...
EDN評論
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03 雲端化:5G的秘密元素
‘Cloudification’(雲端化)對於5G及其如何打造與營運通 訊網路，將帶來巨大影響。當多功能處理器、新設備與開放 標準、軟體以及雲端基礎設施就緒，人們將擁有高速且豐 富的通訊基礎架構，使用上就跟打開水龍頭一樣簡單。
技術脈動
10 固態電池:電池革命即將到來 固態電池商用化將如何重塑電動出行(e-mobility)業務?
05 Apple Unleashed:加速朝Arm轉移 Apple今年十月「來炸場」(Unleashed)發佈會發表的M1後
繼SoC及其應用更令人驚喜且興奮...
趨勢窺測
13 揭密Snap第三代AR 眼鏡Spectacles 3
第三代Snap Spectacles售價高達380美元，目標用戶鎖定 於「崇尚創意新工具的時尚粉絲以及藝術家」...
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